산화하프늄 검색결과 총 5

  • '반도체 산화막 두께측정' 세계가 국산장비 인정
    '반도체 산화막 두께측정' 세계가 국산장비 인정

    [파이낸셜뉴스] 국내 연구진이 국산 장비를 이용해 반도체 산화막의 두께를 측정하는 국제기준을 마련하는데 성공했다. 연구진은 국내 반도체 소자업체에 최고 수준의 측정 신뢰성을 부여함으로써 외국 기업이 따라올 수 없는 초격차

    2021-04-30 10:13:24
  • "손톱만한 칩에 500TB 저장한다"…1000배 향상 소재 발견
    "손톱만한 칩에 500TB 저장한다"…1000배 향상 소재 발견

    국내 연구진이 세계 처음으로 손톱만 한 크기의 반도체에 초고화질(풀HD)급 영화(1편당 3.7GB) 13만8300편가량을 저장할 수 있는 메모리 집적 소재와 원리를 찾아냈다. 이 기술을 이용하면 개별 원자에 직접 정보를 저장하

    2020-07-02 21:43:04
  • 손톱만한 칩에 500TB 저장한다..UNIST, 삼성 지원받아 반도체용량 1000배 향상 원리 발견
    손톱만한 칩에 500TB 저장한다..UNIST, 삼성 지원받아 반도체용량 1000배 향상 원리 발견

    [파이낸셜뉴스] 국내 연구진이 세계 처음으로 손톱만한 크기의 반도체에 초고화질(Full HD)급 영화(1편당 3.7GB) 13만8300편 가량을 저장할 수 있는 메모리 집적 소재와 원리를 찾아냈다.   이 기술을

    2020-07-02 14:58:44
  • 국내 중기 측정장비로 반도체 산화막 두께 측정
    국내 중기 측정장비로 반도체 산화막 두께 측정

    [파이낸셜뉴스] 한국표준과학연구원(KRISS)이 국내 중소기업 기술로 개발한 첨단 측정장비를 통해 반도체 측정 난제인 산화막 두께를 측정하는 데 성공했다. 중소기업 케이맥㈜의 측정장비로 해결한 이번 성과는 수입 의존도가 높은 반도체

    2019-12-23 11:33:45
  • 표준연, 신물질로 만든 10나노미터 측정 기준자 개발
    표준연, 신물질로 만든 10나노미터 측정 기준자 개발

    한국표준과학연구원 재료측정표준센터의 김창수 박사가 반도체 두께 인증표준물질에 대한 X-선 반사율을 측정하고 있다. 한국표준과학연구원(KRISS)은 재료측정표준센터 김창수 박사팀이 신물질을 활용해 10나노미터(㎚) 이하의 반도체 두께

    2012-09-26 16:17:28